Electromigration in YBa2Cu3O7-8 microbridges /

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書目詳細資料
主要作者: Sim, Sze Kuan
格式: Thesis 圖書
語言:English
出版: 1999.
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實物特徵
實物描述:82 leaves : ill. ; 30 cm.
參考書目:Includes bibliographical references.