Analysis of foreign matter materials related to the die attach process of semiconductor device packaging /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Tengku Elisa Bustaman |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1999.
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://studentsrepo.um.edu.my/id/eprint/2859 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Comparison of pressure-assist silver sintering to tin silver solder alloy as die attach material in high power semiconductor /
بواسطة: Tolentino, Erik Nino
منشور في: (2020) -
Study on the conversion of wire material from gold to copper in semiconductor ball grid packaging /
بواسطة: Ronald Reegan Raipen
منشور في: (2012) -
Transmission electron microscopy of microstructures produced in processing of silikon semiconductor devices /
بواسطة: Jia, Yumin
منشور في: (2001) -
Correlation of electronic and thermal properties of semiconductor devices /
بواسطة: Palaniappn Muthupalaniappan
منشور في: (1999) -
Non-selective area doping of rare-earth material with co-doping /
بواسطة: Yap, Yen
منشور في: (2009)