Xu, Z. (2000). A study of the quasi-breakdown mechanism in ultra-thin gate oxide.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Xu, Zhen. A Study of the Quasi-breakdown Mechanism in Ultra-thin Gate Oxide. 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Xu, Zhen. A Study of the Quasi-breakdown Mechanism in Ultra-thin Gate Oxide. 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.