Lee, K. W. (2000). Reduction of charging effects using pseudo-random scanning in the scanning electron microscope.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lee, Kok Wah. Reduction of Charging Effects Using Pseudo-random Scanning in the Scanning Electron Microscope. 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Lee, Kok Wah. Reduction of Charging Effects Using Pseudo-random Scanning in the Scanning Electron Microscope. 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.