Effects of RF power and annealing on the properties of RF sputtered amorphous silicon carbide films /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Chong, Nyok Boon |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2000.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Effects of annealing on the structural properties of R.F. sputtered amorphous silicon carbide films /
بواسطة: Ong, Tiong Yew
منشور في: (1998) -
Preparation and characterisation of hydrogenated R.F. sputtered amorphous silicon carbide films /
بواسطة: Loo, Fook Leong
منشور في: (1996) -
Effect of rapid thermal annealing on rf sputtered silicon-silicon oxide systems /
بواسطة: Choo, Chong Kheng
منشور في: (1997) -
Electrical and structural characterisation of rapid thermal annealed RF sputtered silicon oxide films /
بواسطة: Han, King Kwang
منشور في: (1998) -
Oxidation studies of hydrogenated amorphous silicon carbide films /
بواسطة: Lee, Liang Pao
منشور في: (2001)