Instrumentation development of an automated integrated test system (AITS) for the characterization of hot-carrier and oxide reliability /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ng Tsu Hau |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2000.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Investigation of hot-carrier-induced interface-traps by DCIV method /
بواسطة: Ng Kok Hooi
منشور في: (1999) -
Activities incentives tracking system (AITS)
بواسطة: Jamil, Nordayanti
منشور في: (2006) -
Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor (LDMOS) transistor Safe Operating Area (HCI-SOA) characterization under hot carrier injection /
بواسطة: Sharifah Shafini Syed Shahabuddin
منشور في: (2013) -
A study of hot carrier degradation in LDMOS transistor /
بواسطة: Atikah Razi
منشور في: (2013) -
Characterization and reliability investigatigation of eeprom tunnel oxide /
بواسطة: Lai, Kah Keen
منشور في: (2001)