Oxidation-induced stacking fault in (100) and (111) silicon wafers /

Saved in:
書目詳細資料
主要作者: Liang, Mei Keat
格式: Thesis 圖書
語言:English
出版: 2002.
主題:
在線閱讀:http://studentsrepo.um.edu.my/id/eprint/2316
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
實物特徵
實物描述:xiii, 111 leaves : ill., (some col.) ; 30 cm.
參考書目:Bibliography: p. 101-103.