Tan, L. C. P. (2001). Characterisation of shallow dopant profiles in semiconductors by spreading resistance profiling.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Tan, Louison Cheng Pheng. Characterisation of Shallow Dopant Profiles in Semiconductors by Spreading Resistance Profiling. 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Tan, Louison Cheng Pheng. Characterisation of Shallow Dopant Profiles in Semiconductors by Spreading Resistance Profiling. 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.