Morphologies and structures of hydrogen-terminated SI (111) surfaces studied by scanning tunneling microscopy and attenuated total reflection FTIR spectroscopy /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Li, Jing |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2001.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
In-situ and ex-situ attenuated total reflection ftir spectroscopic investigation of silicon surfaces hydrogenated in fluoride solutions /
بواسطة: Wang, Li
منشور في: (2001) -
Oxidation-induced stacking fault in (100) and (111) silicon wafers /
بواسطة: Liang, Mei Keat
منشور في: (2002) -
Forensic discrimination of black permanent marker pen inks using attenuated total reflection – fourier transform infrared spectroscopy (atr-ftir) with chemometrics procedure
بواسطة: Joseph, Leviana Ferah
منشور في: (2020) -
Transmission electron microscopy of microstructures produced in processing of silikon semiconductor devices /
بواسطة: Jia, Yumin
منشور في: (2001) -
STM investigation of Si magic cluster /
بواسطة: Lee, Justina Sze Ying
منشور في: (2000)