Fabrication and characterization of scanning thermal microscopy tips using silicon micromachining technology /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Hu, Chang Chuan |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2001.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Fabrication Of Gold Nanodot On Silicon Substrate By Scanning Probe Microscopy And Its Characterization
بواسطة: Darsono, Teguh
منشور في: (2016) -
Thermal response of silicon during virtual laser micromachining
بواسطة: Muhammad Hasri, Ibrahim
منشور في: (2009) -
Near-field enhancement by an apertureless tip and its application in scanning near-field Raman microscopy /
بواسطة: Sun, Wanxin
منشور في: (2003) -
Fabrication and characterization of submicrometer structures and devices using soft lithography and scanning probe microscopy /
بواسطة: Ng, Hou Tee
منشور في: (2001) -
A study on magnetic contrast and magnetic field measurement in the scanning electron microscopy /
بواسطة: Srinivasan Thirumalai
منشور في: (1998)