Copper impurity defects in silicon /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Goh, Sze-Ching |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2000.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Effect Of Temperature And Electric Field On Polysilicon Gettering Of Copper Impurities In Silicon Wafer
بواسطة: Choong, Chwee Lin
منشور في: (2006) -
Formation of copper dots in copper decoration technique /
بواسطة: Pung, Swee Yong
منشور في: (2002) -
Study of porous silicon properties /
بواسطة: Zhang, Yan
منشور في: (2001) -
Characterization of polished silicon wafer /
بواسطة: Rajan Subramaniam
منشور في: (2003) -
Light emission from porous silicon /
بواسطة: Chong, Anne Suet Lin
منشور في: (1999)