Ho, Y. W. (2001). Characterisation of GE nanocrystals in silicon oxide.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Ho, Yew Wee. Characterisation of GE Nanocrystals in Silicon Oxide. 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Ho, Yew Wee. Characterisation of GE Nanocrystals in Silicon Oxide. 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.