Kok, C. K. (2000). Investigation of hot-carrier degradation in surface and buried channel pmosfets.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Kok, Chee Kean. Investigation of Hot-carrier Degradation in Surface and Buried Channel Pmosfets. 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Kok, Chee Kean. Investigation of Hot-carrier Degradation in Surface and Buried Channel Pmosfets. 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.