A study of CO/oxide/COFE tunneling junctions /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Lim, Zao Lin |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2001.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Characterization and reliability investigatigation of eeprom tunnel oxide /
بواسطة: Lai, Kah Keen
منشور في: (2001) -
A unified method for analyzing a large class of waveguides and waveguide junctions /
بواسطة: Lin, Shengli
منشور في: (2001) -
Effects of in-situ magnetic field application and post deposition magnetic annealing on Fe50Mn50 exchange biased structures and magnetic tunnel junctions /
بواسطة: Chen, Fang Hao
منشور في: (2002) -
Tunneling in reliability study of MOS structures /
بواسطة: Ma, Siguang
منشور في: (1999) -
Analysis and application of symmetrical six-port waveguide junction /
بواسطة: Shi, Jinglin
منشور في: (2001)