Kim, S. J. (2001). Effect of X-ray lithography on MOS device reliability.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Kim, Sun Jung. Effect of X-ray Lithography on MOS Device Reliability. 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Kim, Sun Jung. Effect of X-ray Lithography on MOS Device Reliability. 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.