Shi, J. (2002). ICP etching and structural characterization of amorphous silicon carbide.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Shi, Jing. ICP Etching and Structural Characterization of Amorphous Silicon Carbide. 2002.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Shi, Jing. ICP Etching and Structural Characterization of Amorphous Silicon Carbide. 2002.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.