Heng, A. S. (1988). Integrated testing and algorithms for computer visual inspection of integrated circuits.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Heng, Aik Swan. Integrated Testing and Algorithms for Computer Visual Inspection of Integrated Circuits. 1988.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Heng, Aik Swan. Integrated Testing and Algorithms for Computer Visual Inspection of Integrated Circuits. 1988.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.