Integrated testing and algorithms for computer visual inspection of integrated circuits /

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書目詳細資料
主要作者: Heng, Aik Swan
格式: Thesis 圖書
語言:English
出版: 1988
主題:
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實物特徵
Item Description:Photocopy
實物描述:xii, 202 leaves ; 29cm.
參考書目:Bibliography: leaves 192-198.