Integrated testing and algorithms for computer visual inspection of integrated circuits /

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书目详细资料
主要作者: Heng, Aik Swan
格式: Thesis 图书
语言:English
出版: 1988
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实物特征
Item Description:Photocopy
实物描述:xii, 202 leaves ; 29cm.
参考书目:Bibliography: leaves 192-198.