Integrated testing and algorithms for computer visual inspection of integrated circuits /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Heng, Aik Swan |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1988
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
An intelligent walk-through IC package inspection system /
بواسطة: Lim, Seong Liang
منشور في: (1995) -
Development of an effective algorithm for microchip lead inspection /
بواسطة: Obaidy, Haitham Hilmi Lutfi
منشور في: (2004) -
Integrated circuit detailed routing /
بواسطة: Tan, Tiow Seng
منشور في: (1987) -
Automatic visual inspection of IC packages /
بواسطة: Zhou, Huiyang
منشور في: (1998) -
Image segmentation for retriving encryption on integrated circuit in PCBA inspection /
بواسطة: Vigneswaran Thanabalan
منشور في: (2016)