Single contact phenomena in beam induced current microscopy /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Kolachina Sivaramakrishna |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1998.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Single contact optical beam induced currents (scobic) /
بواسطة: Chin, Jiann Min
منشور في: (1999) -
Electron beam induced current/tunneling current microscopy of thin silicon dioxide films on silicon /
بواسطة: Pey, Kin San
منشور في: (1994) -
Development of ytterbium thulium co-doped fiber laser for operation in 1.9 micron region /
بواسطة: Siti Munirah Muhammad Ali
منشور في: (2014) -
An investigation into the electron beam induced current effects on semiconductor materials and devices /
بواسطة: Ong, Vincent Keng Sian
منشور في: (1995) -
Analysis on free space optics communication systems using beam propagation method /
بواسطة: Tan, Xin Mei
منشور في: (2012)