Ng, C. M. (2001). Ultra shallow secondary ion mass spectrometric studies on semiconductors.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Ng, Chee Mang. Ultra Shallow Secondary Ion Mass Spectrometric Studies on Semiconductors. 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Ng, Chee Mang. Ultra Shallow Secondary Ion Mass Spectrometric Studies on Semiconductors. 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.