Guan, H. (2001). New investigation in ultra-thin gate oxide degradation phenomena.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Guan, Hao. New Investigation in Ultra-thin Gate Oxide Degradation Phenomena. 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Guan, Hao. New Investigation in Ultra-thin Gate Oxide Degradation Phenomena. 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.