Plasma process-induced damage to oxide/nitride/oxide (ONO) interpoly dielectric in flash memory devices /

Saved in:
書目詳細資料
主要作者: Cha, Cher Liang
格式: Thesis 圖書
語言:English
出版: 2001.
主題:
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
實物特徵
實物描述:xviii, 117 leaves : ill. ; 30 cm.
參考書目:Bibliography: leaves 140-165.