Sangar Subramaniam. (2005). Dependence of physical and electronic properties on the thickness of silicon dioxide thin films.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Sangar Subramaniam. Dependence of Physical and Electronic Properties on the Thickness of Silicon Dioxide Thin Films. 2005.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Sangar Subramaniam. Dependence of Physical and Electronic Properties on the Thickness of Silicon Dioxide Thin Films. 2005.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.