Influence of RF power and hidrogen dilution on the optical and structural properties of hydrogenated silicon thin films deposited by RF plasma enhanced chemical vapour deposition /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Shi, Chee Han
التنسيق: أطروحة كتاب
اللغة:English
منشور في: 2008.
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
LEADER 00934cam a2200241 a 4500
001 u764665
003 SIRSI
005 200901291306
008 090129s2008 my a t 000 0 eng m
040 |a UMM 
090 |a QC3  |b UM 2008 Shi 
100 1 |a Shi, Chee Han. 
245 1 0 |a Influence of RF power and hidrogen dilution on the optical and structural properties of hydrogenated silicon thin films deposited by RF plasma enhanced chemical vapour deposition /  |c Shi Chee Han. 
260 |c 2008. 
300 |a xviii, 191 leaves :  |b ill. ;  |c 30 cm. 
502 |a Dissertation (M.Sc.) -- Jabatan Fizik, Fakulti Sains, Universiti Malaya, 2008. 
504 |a Bibliography: leaves 184-191. 
650 0 |a Plasma frequencies. 
650 0 |a Thin films. 
710 2 |a Universiti Malaya.  |b Jabatan Fizik. 
900 |a ZSA-ZA 
596 |a 1 
999 |a QC3 UM 2008 SHI  |w LC  |c 1  |i A513444868  |d 12/10/2009  |f 12/10/2009  |g 1  |l STACKS  |m P01UTAMA  |r Y  |s Y  |t TESIS  |u 12/10/2009