توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Ramlee Adnan. (2008). Physical properties of hydrogenated silicon (Si:H) thin films: The effect of RF power during deposition.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Ramlee Adnan. Physical Properties of Hydrogenated Silicon (Si:H) Thin Films: The Effect of RF Power During Deposition. 2008.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)

Ramlee Adnan. Physical Properties of Hydrogenated Silicon (Si:H) Thin Films: The Effect of RF Power During Deposition. 2008.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.