Application of six sigma methodology for improving process yield in surface mount technology /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Nadiah Muhamad
Format: Thesis Book
Language:English
Published: 2011.
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 01296cam a2200289 a 4500
001 u831230
003 SIRSI
005 201106131636
008 110613s2011 my a t 000 0 eng m
040 |a UMM  |u MJ 
090 |a TS176  |b UM 2011 Nadm 
097 |a TS176  |b UM 2011 Nadm 
100 0 |a Nadiah Muhamad. 
245 1 0 |a Application of six sigma methodology for improving process yield in surface mount technology /  |c Nadiah binti Muhamad. 
260 |c 2011. 
300 |a xiii, 147 leaves :  |b ill. (some col.) ;  |c 30 cm. 
502 |a Dissertation (M.Eng.(Manuf.)) -- Jabatan Kejuruteraan Rekabentuk dan Pembuatan, Fakulti Kejuruteraan, Universiti Malaya, 2011. 
504 |a Bibliography: leaves 142-143. 
650 0 |a Six sigma (Quality control standard). 
650 0 |a Surface mount technology  |x Quality control. 
650 0 |a Printed circuits  |x Design and construction  |x Quality control. 
650 0 |a Quality control  |x Standards. 
710 2 |a Universiti Malaya.  |b Jabatan Kejuruteraan Rekabentuk dan Pembuatan. 
900 |a NHS-ZA 
596 |a 1 7 
999 |a TS176 UM 2011 NADM  |w LC  |c 1  |i A514716633  |d 8/5/2015  |e 8/5/2015  |f 7/12/2011  |g 1  |l STACKS  |m P01UTAMA  |n 2  |r Y  |s Y  |t TESIS  |u 6/12/2011 
999 |a TS176 UM 2011 NADM  |w LC  |c 1  |i A514908837  |d 13/2/2012  |f 13/2/2012  |g 1  |l STACKS  |m P07JURUTER  |r N  |s Y  |t TESIS  |u 3/2/2012