Soon, F. Y. (2012). Characterization of pmosfet degradation in negative bias temperature instability test.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Soon, Foo Yew. Characterization of Pmosfet Degradation in Negative Bias Temperature Instability Test. 2012.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Soon, Foo Yew. Characterization of Pmosfet Degradation in Negative Bias Temperature Instability Test. 2012.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.