Sharifah Shafini Syed Shahabuddin. (2013). Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor (LDMOS) transistor Safe Operating Area (HCI-SOA) characterization under hot carrier injection.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Sharifah Shafini Syed Shahabuddin. Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor (LDMOS) Transistor Safe Operating Area (HCI-SOA) Characterization Under Hot Carrier Injection. 2013.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Sharifah Shafini Syed Shahabuddin. Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor (LDMOS) Transistor Safe Operating Area (HCI-SOA) Characterization Under Hot Carrier Injection. 2013.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.