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    Automatic visual inspection of IC packages /
    由 Zhou, Huiyang
    出版 1998
    主题: “...Integrated circuits Testing....”
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    3D visual inspection of IC bonding wires /
    由 Han, Xiao
    出版 1997
    主题: “...Integrated circuits Testing....”
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  3. 3
    BIST based on reseeding of LFSRs /
    由 Venkataraman, Srikanth
    出版 1993
    主题: “...Digital integrated circuits Testing...”
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  4. 4
    A built-in self-testable bit-slice processor /
    由 Ibrahim Abubakr M.
    出版 1995
    主题: “...Integrated circuits Testing....”
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