الموضوعات المستخلصة من بحثك.
يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Metal oxide semiconductor field-effect transistors Reliability"', وقت الاستعلام: 0.02s تنقيح النتائج
  1. 1
    Latent damage generation in silicon dioxide under high-field impulse and constant-bias stressing /
    بواسطة Lim, Peng Soon
    منشور في 2001
    الموضوعات: “...Metal oxide semiconductor field-effect transistors Reliability...”
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث