يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن 'Sim, Kian Sin', وقت الاستعلام: 0.02s تنقيح النتائج
  1. 1
    A study of specimen charging in electron beam systems /
    بواسطة Sim, Kian Sin
    منشور في 1994
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  2. 2
    Electron beam testing of integrated circuits using a modified scanning electron microscope /
    بواسطة Sim, Kian Sin
    منشور في 1990
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني