يعرض
1 - 1
نتائج من
1
نتيجة بحث عن '
Yong, Yoong Hooi
'
تخطي إلى المحتوى
اللغة
English
中文(简体)
中文(繁體)
اللغة العربية
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الطلب
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
المؤلف
Yong, Yoong Hooi
يعرض
1 - 1
نتائج من
1
نتيجة بحث عن '
Yong, Yoong Hooi
'
, وقت الاستعلام: 0.01s
تنقيح النتائج
فرز بـ
الصلة
التاريخ تنازليا
التاريخ تصاعديا
رقم الطلب
المؤلف
العنوان
1
Gate oxide integrity (GOI) for C13 (0.13 [micro]m) silicon processing technology /
بواسطة
Yong
,
Yoong
Hooi
منشور في 2006
رقم الطلب:
تحميل...
المكان:
تحميل...
أطروحة
كتاب
تحميل...
أضف إلى المفضلة
محفوظ في:
أدوات البحث:
أحصل على تغذية RSS
—
أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني
موضوعات ذات صلة
Dielectrics
Gate array circuits
Metal oxide semiconductors, Complementary
Silicon oxide films
Testing
Services hosted by the Perpustakaan Sultan Abdul Samad, Universiti Putra Malaysia with Cooperation MySyL Group
تحميل...