Ke, J. K. S. (2005). Artificial Neural Network Based Prediction Of Electrical Test Parameters In Wafer Fabrication Technology.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Ke, Joseph Kian Seng. Artificial Neural Network Based Prediction Of Electrical Test Parameters In Wafer Fabrication Technology. 2005.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Ke, Joseph Kian Seng. Artificial Neural Network Based Prediction Of Electrical Test Parameters In Wafer Fabrication Technology. 2005.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.