Investigation of shallow trench isolation and silicide effect on 90nm CMOS devices / Abu Hudzaifah Baharom
Strained technology is used to enhance the performance of the CMOS that involves physically stretching or compressing the silicon crystal lattice, which in turn increasing carrier mobility without having to make them smaller. Shallow-trench isolation (STI) and silicidation process is the way of stra...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Baharom, Abu Hudzaifah |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2010
|
الوصول للمادة أونلاين: | https://ir.uitm.edu.my/id/eprint/102995/1/102995.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Investigation of silicon nitride capping layer and embedded silicon germanium effect on 90nm CMOS devices / Norlina Mohd Zain
بواسطة: Mohd Zain, Norlina
منشور في: (2010) -
Investigation of silicon nitride capping layer and embedded silicon germanium effect on 90 nm CMOS devices / Norlina Mohd Zain
بواسطة: Mohd Zain, Norlina
منشور في: (2010) -
Simulation and execution of robotic welding / Hudzaifah Z. Arifudin
بواسطة: Z. Arifudin, Hudzaifah
منشور في: (2009) -
Compact Modeling Of Deep Submicron CMOS Transistor With Shallow Trench Isolation Mechanical Stress Effect [TK7871.99.M44 T161 2008 f rb].
بواسطة: Tan, Philip Beow Yew
منشور في: (2008) -
Enhanced stability of nickel silicide for advanced CMOS silicon technologies /
بواسطة: Lee, Pooi See
منشور في: (2001)