Very Large Scale Integration Cell Based Path Extractor For Physical To Layout Mapping In Fault Isolation Work
Debug and diagnosis in post-silicon challenges the technological advancement in Physical-to-Layout Mapping capabilities. Areas that require such innovation are fault isolation work in failure analysis of semiconductor devices, at post-silicon stage. Since fault isolation work begins at Register Tran...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2017
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.usm.my/39594/1/MATTHEW_PRAGASAM_24_Pages.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|