20-Gbps High-Speed Converged I/O Loop Back Test Design Methodology For Signal Integrity Enhancement
In high-volume manufacturing (HVM), the degradations of signals at high speed and high frequencies will affect test results. In the semiconductor field, inaccuracies of test setup impact a product yield, increase test operating cost and delay products release time. With the demand for rapid improve...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2015
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.usm.my/41327/1/RAGUBALAN_AL_SHANMUGAM_24_Pages.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|