System-on-chip (SoC) testing using adhoc high-level design for-testability method
The design of System-on-Chip (SoC) is becoming more complex and number of transistors in a chip has increased from millions of gates to billions of gates nowadays but the number of Input/Output pins still remains about the same. In this case, design-for-test (DFT) becomes so important in order to ma...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2009
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/18577/1/ChengChenKongMFKE2009.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|