Software-based self-test with scan design at register transfer level for 16-bit RISC processor

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Ang, Kim Chuan
التنسيق: أطروحة
منشور في: 2010
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!