Enhanced configurable 2-d linear feedback shift register with maximal length
Integrated circuit (IC) testing is one of the important steps in IC manufacturing. In IC testing, various methods have been developed to generate test patterns for testing purposes. Linear feedback shift register (LFSR) is one of the famous methods with easy implementation and uses little gate count...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| منشور في: |
2011
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|