Structural and optical properties of nanocrystalline silicon thin films grown by 150MHz VHF-PECVD
Nanocrystalline silicon thin film is a promising material potentially used in the optoelectronic field due to its improved and unique properties. In this work, nanocrystalline silicon thin films were grown by using a 150MHz VHF-PECVD to study the effect of deposition times, substrate temperatures an...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Tarjudin, Nurul Aini |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2012
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/32428/5/NurulAiniTarjudinMFS2012.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Investigation on morphology and structural properties of 2D carbon nanostructure grown via 150 MHz PECVD
بواسطة: Hasanudin, Muhammad Akmal
منشور في: (2015) -
Optical properties measurements of nanocrystalline silicon thin films
بواسطة: Gan, Chee Hong
منشور في: (2011) -
Structural characterization of silicon nanowires grown by a 150 MHz very high frequency plasma enhanced chemical vapor deposition
بواسطة: Hamidinezhad, Habib
منشور في: (2011) -
Optimization of vhf-pecvd deposition parameters for silicon carbide film using in-situ and in-line gas phase analysis
بواسطة: Azali, Muhamad Muizzudin
منشور في: (2022) -
Effects of hydrogen dilution of silane on the optical and photoluminescence properties of hydrogenated nanocrystalline silicon thin films /
بواسطة: Tang, Show Yih
منشور في: (2008)