Kesan kepada sifat-sifat elektrik akibat radiasi sinar-gamma dan neutron pada transistor kesan medan logam oksida-silikon (MOSFET)
The thesis presents the study of the basic electrical characteristics changes oa a Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor due to the radiation of Gamma rays and neutron.The analysis which been carried out were more emphesis on current-voltage characteristic before and after expose to radi...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2005
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/3482/1/KamalAriffinJusohMFS2005.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|