A study of specimen charging in electron beam systems /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Sim, Kian Sin |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1994.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Electron beam measurements of a transient hollow cathode device /
بواسطة: Khoo, Swee Khean
منشور في: (1999) -
An investigation into the electron beam induced current effects on semiconductor materials and devices /
بواسطة: Ong, Vincent Keng Sian
منشور في: (1995) -
Computer simulation of space charge effects in electron guns for E-beam testing /
بواسطة: Yao, Pei
منشور في: (1997) -
A study of some aspects of electron beam lithography /
بواسطة: Chor, Eng Fong
منشور في: (1982) -
Study of damage threshold of substrate in laser cleaning process /
بواسطة: Lek, Aik Wee
منشور في: (1998)