A study on integrated circuits I-V characteristics using fault localization system /

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书目详细资料
主要作者: Quah, Larry Thiam Soon
格式: Thesis 图书
语言:English
出版: 1995.
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实物特征
实物描述:xiv, 108 leaves : ill. ; 30 cm.
参考书目:Bibliography: leaves 102-103.