Effects of annealing on the structural properties of R.F. sputtered amorphous silicon carbide films /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ong, Tiong Yew |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1998.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Preparation and characterisation of hydrogenated R.F. sputtered amorphous silicon carbide films /
بواسطة: Loo, Fook Leong
منشور في: (1996) -
Electrical and structural characterisation of rapid thermal annealed RF sputtered silicon oxide films /
بواسطة: Han, King Kwang
منشور في: (1998) -
Effect of rapid thermal annealing on rf sputtered silicon-silicon oxide systems /
بواسطة: Choo, Chong Kheng
منشور في: (1997) -
Electrical and structural characterisations of rapid thermal annealed silicon-silicon oxide systems /
بواسطة: Chan, Yee Ming
منشور في: (1997) -
Trap-assisted tunneling mechanism of Zirconium Oxynitride (ZrON) thin film on Silicon Carbide /
بواسطة: Nicklaane Krishnamoorthy
منشور في: (2020)