STM investigation of the morphology and atomic structure of 6H-SiC(0001) surface /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ong, Wei Jie |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2001.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Effects of sintering temperature on thermal, mechanical and dielectric properties of SiC/Si3N4 nanoparticles-inserted kaolinite–mullite
بواسطة: See, Alex
منشور في: (2016) -
The effect combination of acid treatments for silicon carbide (SiC) production from rice straw
بواسطة: Noridayu, Ismail -
Fabrication and simulation of P-type junctionless silicon nanowire transistor using silicon on insulator and atomic force microscope nano lithography
بواسطة: Dehzangi, Arash
منشور في: (2012) -
Hot-wire chemical vapour deposition of silicon carbide thin films from pure silane and methane gases /
بواسطة: Tehrani, Fatemeh Shariatmadar
منشور في: (2013) -
Penyediaan dan pencirian sel suria silikon dengan kaedah cetakan tabir /
بواسطة: Mursyidah
منشور في: (1999)