Signal -To-Noise Ratio Estimation In Scanning Electron Microscope Imaging System
Two new methods, the Autoregressive(AR) model and the Mixed Lagrange Time Delay Estimation Autoregressive (MLTDEAR) model, are developed to estimate the Signal-to-Noise Ratio (SNR) from a single image for the Scanning Electron Microscope (SEM) Imaging System application.
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| منشور في: |
2006
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|