Electron beam testing of integrated circuits using a modified scanning electron microscope /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Sim, Kian Sin |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1990.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Development of design framework to overcome aging degradation of 16NM VLSI technology circuits /
بواسطة: Mahmoud, Mohamed Mounir
منشور في: (2013) -
Parametric yield optimization for VLSI circuits /
بواسطة: Chen, Huiming
منشور في: (2000) -
A study on integrated circuits I-V characteristics using fault localization system /
بواسطة: Quah, Larry Thiam Soon
منشور في: (1995) -
Algorithms for reconfiguration problems in VLSI/WSI arrays /
بواسطة: Low, Chor Ping
منشور في: (1994) -
Steiner problem in octilinear routing model /
بواسطة: Koh, Cheng Kok
منشور في: (1995)